針對半導體器件在γ射線輻照環(huán)境下的低溫穩(wěn)定性問題，嘉儀通采用液氮低溫恒溫器，結合精密源表與鈷源輻照裝置，構建了HBT器件低溫輻射損傷特性測試平臺。

核心設備：

液氮低溫恒溫器：

? 提供連續(xù)可調(diào)的低溫實驗環(huán)境（控溫精度±0.1K）；

? 針對鈷源輻照裝置兼容設計：  

  - 定制化樣品臺（方便引線）；

  - 石英玻璃觀測窗（透射率高）；

源表系統(tǒng)：

? 實現(xiàn)高精度I-V特性測量；

? 實時監(jiān)測輻照過程中的電參數(shù)漂移；

鈷源輻照裝置（客戶提供）：提供伽瑪射線；

本方案通過液氮低溫恒溫器模塊化設計解決了傳統(tǒng)輻射測試中的溫度控制難題，其獨立樣品腔室設計既可保證低溫環(huán)境穩(wěn)定性，又能滿足輻照實驗的安全距離要求，為研究低溫協(xié)同輻射效應提供了可靠實驗條件。