探針臺(Probe Station)是一種用于對半導(dǎo)體器件進行電性能測試的設(shè)備?

探針臺是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測試的關(guān)鍵設(shè)備，它通過精密的機械 結(jié)構(gòu)?高性能的探針針頭和電性能測試儀器，對半導(dǎo)體芯片?集成電路和 其他微電子器件進行直接的電性能測試?

探針臺具備高精度?高靈敏度以及環(huán)境適應(yīng)性強的特點，能夠支持集成光 學(xué)測試?電磁測試等多種測試手段，為半導(dǎo)體器件的全面性能評估提供有 力支持?

探針臺是用于半導(dǎo)體器件?集成電路和其他微電子元件的電學(xué)特性測試的 重要設(shè)備，被廣泛應(yīng)用于研發(fā)?質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試中?