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2024-04
對(duì)于集成電路晶圓測(cè)試來(lái)說(shuō)?通常要經(jīng)過(guò)以下幾個(gè)工藝步驟¦1.合格晶圓接收;2.晶圓烘焙;3.晶圓測(cè)試; ...
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2024-04
集成電路測(cè)試系統(tǒng)在執(zhí)行過(guò)程中?通過(guò)以下幾個(gè)步驟來(lái)得出測(cè)試結(jié)果¦1?測(cè)量值記錄方法通過(guò)探針臺(tái)等測(cè)試收到 ...
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2024-04
集成電路的性能和特性主要受到電路設(shè)計(jì)和制造工藝的影響?同時(shí)也與電路的工作條件?如電源電壓?環(huán)境溫度等 ...
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2024-04
集成電路缺陷?故障和失效是集成電路設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中的重要概念?在研發(fā)階段用探針臺(tái)來(lái)檢測(cè)是比較常見(jiàn)的? ...
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2024-04
在產(chǎn)業(yè)鏈中?集成電路測(cè)試可分為兩大類(lèi)別¦集成電路晶圓測(cè)試和集成電路成品測(cè)試?這兩者主要依據(jù)所處的產(chǎn)業(yè) ...